Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук  

 СТАТУС | СОСТАВ | ПОВЕСТКА | ЗАЩИТА ДИССЕРТАЦИИ 

ДИССЕРТАЦИОННАЯ РАБОТА





слово,
как прописано:
обновлено 21 июня 2017 г.
Вергелеса Павла Сергеевича
" Исследование методами растровой электронной микроскопии пленок и гетероструктур на основе нитрида галлия "
представленная на соискание ученой степени кандидата физ.-мат. наук по специальности 05.27.01 - твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах.

предварительное рассмотрение: 10 апреля 2017 г.    протокол о принятии к защите

защита диссертации: 15 июня 2017 г. заключение дисс. совета о присуждении протокол заседания дисс. совета
Отзывы на автореферат:  1 ,  2 ,  3 ,  4 ,  5 , Оппоненты и ведущая организация:
  Сведения об официальном оппоненте (Штейнман Э.А.)
  Сведения об официальном оппоненте (Васильев А.Л.)
  Сведения о ведущей организации

отзывы оппонентов и ведущей организации:
  Васильев А.Л.
  Штейнман Э.А.
  отзыв ведущей организации

  отзыв научного руководителя (Якимов Е.Б.)
Диссертационный совет Д 002.081.01 при ИПТМ РАН
адрес:142432, Московская обл., Черноголовка, ул. Академика Осипьяна 6