Наука
Об Институте
Новости
Наука
Направления Деятельности
Элементарная база
Новые Материалы
Методы диагностики
Материаловедение
Рентгеновская оптика
Наноразмерные структуры
Приборы
Датчики
Оборудование
Внебюджетные проекты и Коммерческие предложения
Инновации
Гранты
Семинары
Семинар Рентгеновской Оптики
Химический Семинар
ФизическийСеминар
Семинар Материаловедение и Технология
Ученый Совет
Образование
Конкурсы
Ресурсы
Оборудование
Оборудование
Квадрупольный масс-спектрометр XSeries I (Thermo Scientific)
Квадрупольный масс-спектрометр XSeries II (Thermo Scientific)
Масс-спектрометр Element II (Thermo Scientific)
Спектрометр iCAP-6500 Duo (Thermo Scientific)
Растровый электронный микроскоп JSM-840 (JEOL) (микроскопия)
Растровый электронный микроскоп JSM-840 (JEOL) (литография)
Растровый электронный микроскоп JSM-6490 (JEOL)
Растровый электронный микроскоп ZEISS EVO-50
Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2000FX (JEOL)
Просвечивающий электронный микроскоп JEM-100СХ (JEOL)
КР-спектрометр с микроскопом (micro-Raman) Bruker Senterra
Фурье-ИК спектрометр Bruker Vertex 70 V
Установка контактной фотолитографии SUSS MJB4
Атомно-силовой микроскоп ИПТМ РАН
Двухкристальный рентгеновский дифрактометр
Рентгеновский микрофлуоресцентный микроскоп
сайт Центра коллективного пользования ИПТМ РАН
×
Обратная связь
×
Поиск
Искать
любое
каждое
слово,
как прописано: