Наука
Об Институте
Новости
Наука
Направления Деятельности
Элементарная база
Новые Материалы
Методы диагностики
Материаловедение
Рентгеновская оптика
Наноразмерные структуры
Приборы
Датчики
Оборудование
Внебюджетные проекты и Коммерческие предложения
Инновации
Гранты
Семинары
Семинар Рентгеновской Оптики
Химический Семинар
ФизическийСеминар
Семинар Материаловедение и Технология
Ученый Совет
Образование
Конкурсы
Ресурсы
Оборудование
КР-спектрометр с микроскопом (micro-Raman) Bruker Senterra
Возможности
микро-КР спектроскопия
спектральное картирование (Raman mapping)
Технические характеристики
Модуль микроскопа:
Olympus BX51, отражённого света
Фото-камера
Объективы: 10x, 20x, 50x
Модуль спектрометра
Лазеры 488, 532 и 785 нм
ПЗС-детектор
Две решётки (на полный диапазон и на высокое разрешение)
сайт Центра коллективного пользования ИПТМ РАН
×
Обратная связь
×
Поиск
Искать
любое
каждое
слово,
как прописано: