Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук  

 НАПРАВЛЕНИЯ | 1 | 2 | 3 | 4 

ИССЛЕДОВАНИЕ ФИЗИЧЕСКИХ ОСНОВ И РАЗРАБОТКА ТЕХНОЛОГИИ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ СВЧ ЭЛЕКТРОНИКИ.





слово,
как прописано:
Номер госрегистрации: 01.0.40 000355
руководитель - к.т.н. Шаповал С.Ю.

Работы по этому направлению охватывают широкий спектр поисковых и прикладных исследований в области технологии микроэлектроники и микросистемной техники:

  • физика сверхвысокочастотной плазмы в условиях электронного циклотронного резонанса и ее применение в технологии наноэлектроники (совместно с ЭЗНП РАН) для прецизионного травления, осаждения тонких слоев и эпитаксии, включая разработку и изготовление промышленного ЭЦР-плазменного оборудования наноэлектроники;
  • исследование физических основ приборов и интегральных схем на основе широкозонных полупроводниковых материалов;
  • технология и конструкция датчиков физических параметров как одиночных, так и в матричном исполнении;
  • разработке новых принципов прецизионного перемещения по гладким поверхностям.

    Разработана конструкция и лабораторная технология однозатворных транзисторных структур с Т-образными суб-100 нм затворами на основе нелегированных структур AlGaN/GaN с двумерным электронным газом. Получены первые образцы транзисторных структур нелегированных AlGaN/GaN HEMT.

  •