Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук  

 СТРУКТУРА | ДИРЕКЦИЯ | ЛАБОРАТОРИИ | АСИЦ 

ЛАБОРАТОРИЯ ЛОКАЛЬНОЙ ДИАГНОСТИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ



ENGLISH VERSION


слово,
как прописано:


лаборатория N14

Заведующий лабораторией:
Якимов Евгений Борисович
телефон: 44161,44182
yakimov@iptm.ru

Основная тема: Материаловедение полупроводниковых материалов Диагностика полупроводниковых и сегнетоэлектрических материалов Электронно-лучевая томография в РЭМ.

Содержание проводимых исследований:

  • Исследование природы и свойств водородсодержащих дефектов в Si;
  • Исследования полупроводниковых структур на основе кремния, нитрида галлия и узкозонных полупроводников методом наведенного тока в РЭМ;
  • Исследование свойств протяженных дефектов в кремнии и нитриде галлия;
  • Развитие методов растровой электронной микроскопии и электронно-лучевой томографии;
  • Развитие методов диагностики сегнетоэлектриков в РЭМ;
  • Диагностика фоторезисторов на основе соединений ртуть-кадмий-теллур методом наведенного тока.