Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук  

 ОБЩАЯ | АСПИРАНТУРА | МФТИ | МГУ | МИСИС | КУРСЫ ЛЕКЦИЙ 

ПРОГРАММА КУРСА "ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ТЕХНОЛОГИИ НАПЫЛЕНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК"





слово,
как прописано:

Программу составил доцент, к.ф.-м.н Марченко В.А.

ЦЕЛЬ КУРСА: Дать представление о современных методах роста пленок, их возможностях и ограничениях. Рассмотреть физические явления, происходящие на различных этапах процесса напыления и роста пленок; особенности оборудования, определяемые природой пленок и методом их нанесения. Рассмотреть процессы термического и лазерного испарения, ионного и ионно-плазменного распыления, химического осаждения из газовой фазы; транспорта вещества от источника к поверхности роста; конденсации, образования зародышей и роста пленок.

ОСНОВНЫЕ УМЕНИЯ И НАВЫКИ: Постановка и проведение экспериментов по исследованию и созданию тонких пленок с заданными эксплуатационными характеристиками.

РАСПРЕДЕЛЕНИЕ УЧЕБНОГО ВРЕМЕНИ:
Лекции60 час.
Лабораторные работы18 час.
Практические занятия22 час.
Семинарские занятия8 час.
ВСЕГО:108 час.

Семестровый контроль: экзамен.

СОДЕРЖАНИЕ ЛЕКЦИОННОГО КУРСА

Тема 1. Введение. Тонкопленочная технология. [1] (4 часа)

1.1. Понятия "пленка" и "тонкая пленка". Эпитаксиальные пленки. Примеры свойств и возможностей применения тонких пленок. Этапы процесса осаждения пленок и их физико-химические особенности.
1.2. Методы анализа и структурирования пленок. Литография и травление - способы и предельные возможности. Основные этапы создания тонкопленочных приборов и устройств.

Тема 2. Механизмы роста пленок. [2,1*,2*] (6 часов)

2.1. Конденсация, образование зародышей и рост тонких пленок. Капиллярная модель зародышеобразования. Четыре стадии роста пленки. Влияние характера зарождения пленок на их структуру.
2.2. Рост монокристаллических пленок. Послойный (2D), островковый (3D) и смешанный рост. Гетероэпитаксия, дислокации несоответствия, теория Ван дер Мерве.
2.3. Монокристаллические пленки на неориентирующих и аморфных подложках, графоэпитаксия, ионно-стиммулированый рост. Альтернативные осаждению методы создания монокристаллических пленок: SIMOX и Smart Cut процессы, латеральная кристаллизация.

Тема 3. Термическое испарение. [2] (4 часа)

3.1. Скорость испарения. Энергетический спектр испаренных атомов, их угловое распределение. Расчет скорости осаждения при баллистическом и диффузионном транспорте вещества от источника к подложке. Способы нагрева загрузки и конструкции испарителей. Испарение сплавов и соединений. Загрязнения в пленках и требования к вакууму.
3.2. Молекулярно-лучевая эпитаксия. Эффузионные ячейки. Материалы тиглей. Контроль in situ скорости напыления и структуры пленок.

Тема 4. Ионное распыление. [3,4] (8 часов)

4.1. Взаимодействие энергичных частиц с поверхностью. Оже нейтрализация. Потенциальная и кинетическая эмиссии электронов Выделение ионного тока из полного тока мишени. Отражение от поверхности.
4.2. Движение ионов в мишени. Первичные и вторичные атомы отдачи. Потери энергии. Ядерное, электронное торможение. Каналирование, фокусировка Силсби. Пробеги ионов. Имплантация газовых ионов. Энергия связи ионов инертных газов с дефектами.
4.3. Режимы первичного прямого выбивания, линейных каскадов, тепловых пиков. Коэффициент распыления: Z-осцилляции, пороговые энергии, угловое распределение, зависимость выхода от угла падения ионов. Энергетический спектр распыленных атомов. Распыление соединений, сплавов.
4.4. Расчет взаимодействия энергичных частиц с веществом. Модель Зигмунда. Программа TRIM и ее развитие. Метод молекулярной динамики.

Тема 5. Катодное распыление. [3,5] (6 часов)

5.1. Газовый разряд, его типы, вольтамперная характеристика, условие самоподдержки. Тлеющий разряд, распределение параметров плазмы по длине.
5.2. Радиус экранирования в плазме. Плавающий и плазменный потенциалы. Энергетические распределения электронов. Диагностика плазмы, зонды Лэнгмюра.
5.3. Энергии ионов в темном катодном слое. Рассеяние и перезарядка ионов. Зависимость энергии распыленных атомов от катодного потенциала. Высокочастотное распыление.

Тема 6. Магнетронное распыление. (4 часа)

6.1. Электроны в скрещенных электрическом и магнитном полях. Типы и характеристики магнетронных распылительных систем.
6.2. Потоки энергичных частиц на поверхность растущих пленок. Перераспыление, газовое легирование. Термализация энергичных частиц. Реакции в газовой фазе.

Тема 7. Реактивное ионно-плазменное напыление. (2 часа)

7.1. Поглощение газов и гистерезисные явления при реактивном напылении. Напыление в режиме постоянных парциальных давлений. Датчики парциальных давлений.

Тема 8. Лазерное испарение. [7] (2 час)

8.1. Взаимодействие лазерных пучков с поверхностью материалов. Глубины проникновения, коэффициенты отражения, механизмы передачи энергии. Испарение материалов под действием лазеров. Импульсное лазерное испарение. Влияние мощности и длительности импульса.

Тема 9. Химическое осаждение из газовой фазы. [1,2] (4 час)

9.1. Методы кристаллизации с участием химических реакций. Пиролиз, реакции восстановления, окисления и т. д. Синтез из металлоорганических соединений. Метод химического транспорта. Пиролиз при распылении жидкости. Промышленное наращивание эпитаксиальных слоев кремния.

Тема 10. Подложки и подложкодержатели для роста пленок. [1] (4 час)

10.1. Методы подготовки поверхности. Механическая, химическая, плазмохимическая и ионная обработка поверхности. Вакуум-термическая и химико-термическая подготовка поверхности. Скол в вакууме. Удаление естественных оксидов с кремниевых пластин, водородное и кислородное окончание.
10.2. Методы нагрева и охлаждение подложек, измерения температуры. Плазмостойкие нагреватели. Геометрия внеосевого напыления. Влияние потенциала подложки на плазменное окисление пленок.

Тема 11. Технологическое оборудование напылительных установок. [1] (4 час)

11.1. Адсорбция газов и обезгаживание материалов. Способы контроля общего и парциальных давлений. Вакуумные насосы, вентили, контролеры расхода газов.
11.2. Блоки питания испарителей, электронных пушек, мишеней. Планетарные механизмы подложкодержателей, заслонки.

ОСНОВНАЯ ЛИТЕРАТУРА

  1. И. Броудай, Дж. Мерей. Физические основы микротехнологии. М.: Мир, 1985
  2. Технология тонких пленок. Справочник. Под ред. Л. Майссела, Р. Глэнга. Том 1. М.: Советское радио. 1977
  3. Фундаментальные и прикладные аспекты распыления твердых тел. Сборник статей. Составитель Е. С. Машкова. М.: Мир. 1989
  4. И. Мак-Даниель. Процессы столкновений в ионизированных газах. М.: Мир. 1967
  5. Ю. П. Райзер. Физика газового разряда. М.: Наука. 1987
  6. Л. С. Палатник, И. И. Папиров. Эпитаксиальные пленки. М.: Наука. 1971
  7. Рэди Дж., Действие мощного лазерного излучения, М., Мир,1966, с.10-115.

ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ ЛИТЕРАТУРА

  1. * Е.И. Гиваргизов. Искусственная эпитаксия. М., Наука, 1988 .
  2. * Монокристаллические пленки. Сборник статей. Перевод с англ. Под ред. З. Г. Пинскера. М. Мир, 1966. Главы 3,9.
  3. * Грошковский Я.А., "Техника высокого вакуума", М., Мир, 1975, с.46-60,154-216.

ПЕРЕЧЕНЬ ТЕМ ЛАБОРАТОРНЫХ РАБОТ

  1. Магнетронное напыление пленки алюминия, измерение радиального распределения толщины профилометром и его теоретический расчет в баллистической модели. (6 час)
  2. Реактивное напыление пленки оксида ванадия, измерение ее удельного сопротивления и температурного коэффициента сопротивления. (6 час)
  3. Высокочастотное магнетронное напыление эпитаксиального слоя оксида циркония на кремний. Контроль структуры пленки методом дифракции быстрых электронов. (6 час)

ПЕРЕЧЕНЬ ТЕМ ПРАКТИЧЕСКИХ ЗАНЯТИЙ

  1. Расчет параметров плазмы по зондовой вольтамперной характеристике.
  2. Расчет пробега ионов в аморфных мишенях по программе TRIM.
  3. Расчет скорости напыления в зависимости от давления в диффузионном приближении.
  4. Расчет профиля толщины пленки при термическом испарении из круглого источника.
  5. Расчет профиля толщины пленки при магнетронном распылении при низких давлениях реакционного газа.
  6. Расчет элементов вакуумных напылительных систем источника.
  7. Контактное и бесконтактное измерение температуры подложек.
  8. Расчет параметров решетки пленок по данным электронной дифракции.

    СЕМИНАРСКИЕ ЗАНЯТИЯ

    1. Датчики давления кислорода на основе твердых электролитов. (2 час)
    2. Проблемы напыления пленок многокомпонентных оксидных соединений. (2 час)
    3. Защита от электрических пробоев деталей и узлов напылительных установок лазерного и ионно-плазменного распыления. (2 час)
    4. Природа энергичных частиц, эмитируемых мишенью при ионном облучении. (2 час)