Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук  

 СТАТУС | СОСТАВ | ПОВЕСТКА | ЗАЩИТА ДИССЕРТАЦИИ 

ДИССЕРТАЦИОННАЯ РАБОТА





слово,
как прописано:
обновлено 22 октября 2025 г.
Чукалиной Марины Валерьевны
" Измерительно-вычислительные методы рентгеновской диагностики для определения атомной и морфологической (пространственной) структуры материалов и изделий микро- и наноэлектроники "
представленная на соискание ученой степени доктора физ.-мат. наук по специальности 2.2.2 - "Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств"

предварительное рассмотрение: 15.10.2025 г.
принятие к защите: 22.10.2025 г. протокол о принятии к защите
защита диссертации: 23.01.2026 г. объявление на сайте ВАК
Загрузить автореферат (pdf 2.8 Mb)
Загрузить диссертацию (pdf 5.4 Mb)
дата загрузки диссертации: 09.10.2025
Официальные оппоненты:
Пунегов Василий Ильич, д.ф.-м.н., проф. главный научный сотрудник Физико-математического института Федерального исследовательского центра «Коми научный центр Уральского отделения Российской академии наук»;

Бушуев Владимир Алексеевич, д.ф.-м.н., проф., профессор Федерального государственного бюджетного образовательного учреждения высшего образования «Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова»;

Бессонов Виктор Борисович, д-р тех. наук, проректор-директор передовой инженерной школы Федерального государственного автономного образовательного учреждения высшего образования «Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)».

Ведущая организация - Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования .Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

Диссертационный совет Д 002.081.01 при ИПТМ РАН
адрес:142432, Московская обл., Черноголовка, ул. Академика Осипьяна 6