|
обновлено 26 января 2026 г.
Чукалиной Марины Валерьевны
"
Измерительно-вычислительные методы рентгеновской диагностики для определения атомной и морфологической (пространственной) структуры материалов и изделий микро- и наноэлектроники
"
|
представленная на соискание ученой степени доктора физ.-мат. наук
по специальности 2.2.2 - "Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств"
Официальные оппоненты:
Пунегов Василий Ильич, д.ф.-м.н., проф. главный научный сотрудник Физико-математического института
Федерального исследовательского центра «Коми научный центр Уральского отделения Российской академии наук»;
Бушуев Владимир Алексеевич, д.ф.-м.н., проф., профессор Федерального государственного бюджетного
образовательного учреждения высшего образования «Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова»;
Бессонов Виктор Борисович, д-р тех. наук, проректор-директор передовой инженерной школы Федерального
государственного автономного образовательного учреждения высшего образования «Санкт-Петербургский государственный
электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)».
Ведущая организация -
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования .Национальный исследовательский
ядерный университет «МИФИ»
Отзывы на автореферат:
1,
2,
3,
4
|
Диссертационный совет Д 002.081.01 при ИПТМ РАН
адрес:142432, Московская обл., Черноголовка, ул. Академика Осипьяна 6 |
|---|
|
